自動化不銹鋼(gang)管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列(lie)檢測探(tan)(tan)頭是磁(ci)場傳感器的(de)(de)載體(ti)和組合，是漏磁(ci)檢測信號(hao)的(de)(de)收集器。隨著(zhu)漏磁(ci)檢測應用的(de)(de)不(bu)(bu)斷深(shen)入和檢測要求(qiu)的(de)(de)逐(zhu)步提(ti)高，除了磁(ci)化問題，另一(yi)個核心就是漏磁(ci)檢測探(tan)(tan)頭的(de)(de)設計。若探(tan)(tan)頭性能(neng)不(bu)(bu)好或者不(bu)(bu)合適，則會出現(xian)漏判或者誤(wu)判，嚴(yan)重(zhong)影(ying)響漏磁(ci)檢測的(de)(de)可(ke)靠性。
另一(yi)方面，沒有(you)一(yi)種(zhong)探頭是萬(wan)能(neng)的。由于自然(ran)缺陷的形態千變萬(wan)化，檢測(ce)探頭必然(ran)存在局限性，漏判(pan)或誤(wu)判(pan)的情況在檢測(ce)實(shi)踐(jian)中(zhong)時有(you)發生。下(xia)面對檢測(ce)探頭的內部結(jie)構和(he)檢測(ce)特(te)性進行分析(xi)。
一、漏磁檢測(ce)探頭(tou)的結構(gou)形式
目前(qian)，最具代(dai)表性的(de)(de)不銹鋼管漏磁檢(jian)測(ce)傳感(gan)器(qi)有(you)兩種：霍爾(er)元件和(he)感(gan)應線圈，尤其是集成霍爾(er)元件和(he)光(guang)刻平面(mian)線圈。為了(le)獲得較高(gao)的(de)(de)磁場測(ce)量空間分辨力和(he)相(xiang)對寬廣(guang)的(de)(de)掃查范圍，檢(jian)測(ce)探頭芯結構有(you)多種形式。
1. 點(dian)(dian)檢(jian)(jian)測形式 在檢(jian)(jian)測探(tan)頭(tou)中(zhong)(zhong)，對某一點(dian)(dian)上或微小區域的(de)漏(lou)磁(ci)場測量，并且每(mei)個(ge)測點(dian)(dian)對應于一個(ge)獨(du)立的(de)信(xin)號通道(dao)，如圖3-6a所示，以下簡稱為點(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)。很明(ming)顯，點(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)中(zhong)(zhong)每(mei)個(ge)點(dian)(dian)能夠掃查的(de)檢(jian)(jian)測范圍(wei)很小，但空間(jian)分辨(bian)力高，如單個(ge)霍爾元件(jian)的(de)敏感面積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)檢(jian)(jian)用(yong)檢(jian)(jian)測線圈也可(ke)做到φ1mm內。
2. 線檢測(ce)(ce)(ce)形式 在檢測(ce)(ce)(ce)探(tan)頭(tou)中，對一條線上的(de)(de)(de)漏磁(ci)場進行(xing)綜合測(ce)(ce)(ce)量(liang)，如(ru)圖3-6b所示，以下簡稱為線檢探(tan)頭(tou)。例如(ru)，用(yong)感應線圈(quan)檢測(ce)(ce)(ce)時，將(jiang)線圈(quan)做成條狀(zhuang)，則它感應的(de)(de)(de)是線圈(quan)掃(sao)查(cha)路徑對應空間范圍內的(de)(de)(de)漏磁(ci)通的(de)(de)(de)變化。用(yong)霍(huo)爾(er)元(yuan)(yuan)件檢測(ce)(ce)(ce)時，采(cai)用(yong)線陣(zhen)排列(lie)，將(jiang)多個元(yuan)(yuan)件檢測(ce)(ce)(ce)信號(hao)用(yong)加法器疊加后輸出單(dan)個通道信號(hao)，則該信號(hao)反映的(de)(de)(de)是霍(huo)爾(er)元(yuan)(yuan)件線陣(zhen)長度內的(de)(de)(de)磁(ci)感應強度的(de)(de)(de)平均值。
在(zai)漏磁檢測(ce)中，上述兩種(zhong)(zhong)形式是最基本(ben)的(de)(de)形式，由此可(ke)以(yi)組(zu)合成多種(zhong)(zhong)形式的(de)(de)探頭(tou)，如(ru)圖3-6c所示(shi)的(de)(de)平面內的(de)(de)面陣列(lie)探頭(tou)，以(yi)及圖3-6d所示(shi)的(de)(de)多個平面上的(de)(de)立體陣列(lie)探頭(tou)。
二、漏磁檢測探頭的檢測特性(xing)
1. 缺陷類型
不銹鋼管(guan)在進(jin)行漏磁檢測方法(fa)和設備的考核時，常采用(yong)機加工或電(dian)火花方式刻制標準人工缺(que)陷(xian)，自然(ran)缺(que)陷(xian)可表達成(cheng)它們的組合形式。為便于分析和精確評估，將標準缺(que)陷(xian)分成(cheng)下列三類。
（1）點狀缺(que)陷 點狀缺(que)陷的(de)面積小，集中在一(yi)點或小圈內(nei)，如(ru)標(biao)準(zhun)缺(que)陷里的(de)通孔(kong)，自然缺(que)陷里的(de)蝕(shi)坑(keng)、斑(ban)點、氣孔(kong)等，它們產生的(de)漏磁場是一(yi)個(ge)集中的(de)點團(tuan)狀場，分布(bu)范(fan)圍(wei)小。
（2）線狀缺陷(xian)(xian) 線狀缺陷(xian)(xian)的(de)寬長比很小，形成一條(tiao)線，如標準缺陷(xian)(xian)里的(de)矩形刻槽(cao)、自然缺陷(xian)(xian)里的(de)裂紋等，它們產生的(de)漏磁場(chang)是沿線條(tiao)的(de)帶狀場(chang)。
（3）體(ti)狀缺陷 體(ti)狀缺陷的長、寬、深(shen)尺寸(cun)均較(jiao)大，形成坑或窩(wo)，如標(biao)準缺陷中(zhong)的大不(bu)通孔(kong)、自然缺陷里的片(pian)狀腐(fu)蝕等，它們產生的漏磁場分布(bu)范圍廣。
2. 不同結構探頭的(de)檢測特性(xing)
不(bu)銹鋼管(guan)在漏磁檢測(ce)(ce)中(zhong)，特別要強調空間和(he)方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)(xiang)的(de)概念。因為(wei)，漏磁場(chang)是(shi)空間場(chang)，且具有方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)(xiang)性(xing)；漏磁檢測(ce)(ce)信(xin)號是(shi)時間域的(de)，且沒有相位信(xin)息；不(bu)僅檢測(ce)(ce)探頭具有敏感方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)(xiang)，而且檢測(ce)(ce)探頭的(de)掃查路徑也具有方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)(xiang)性(xing)，不(bu)同(tong)方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)(xiang)均會(hui)對檢測(ce)(ce)信(xin)號及其特征產生(sheng)影響。
另一(yi)(yi)方面，應該特別注意缺陷(xian)漏(lou)磁(ci)場(chang)(chang)的表征形式，在這里，漏(lou)磁(ci)場(chang)(chang)強度(du)(du)和(he)漏(lou)磁(ci)場(chang)(chang)梯度(du)(du)存(cun)在著(zhu)本質的不(bu)(bu)同。霍爾(er)元件(jian)(jian)和(he)感應線圈兩種器件(jian)(jian)的應用也有著(zhu)根本的區別。霍爾(er)元件(jian)(jian)可(ke)以測(ce)(ce)量(liang)空間(jian)某(mou)點上的磁(ci)場(chang)(chang)強度(du)(du)，而(er)感應線圈卻無法實現；感應線圈感應的是空間(jian)一(yi)(yi)定范圍內的磁(ci)通(tong)量(liang)的變化程度(du)(du)，相反(fan)，霍爾(er)元件(jian)(jian)不(bu)(bu)可(ke)以測(ce)(ce)量(liang)磁(ci)通(tong)量(liang)的變化，它測(ce)(ce)量(liang)的是一(yi)(yi)定空間(jian)范圍內的磁(ci)感應強度(du)(du)的平均值。
下面(mian)將逐(zhu)一分析兩種基(ji)本探頭形式對不同(tong)類型缺陷(xian)的檢測信號特性。
a. 點檢探頭的(de)信號特性(xing)
點(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭測(ce)量的(de)是空間某點(dian)(dian)(dian)(dian)上的(de)漏磁感應(ying)強度或磁通量的(de)變化(hua)。點(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭對(dui)(dui)點(dian)(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)是“針尖對(dui)(dui)麥芒”，空間相對(dui)(dui)位置的(de)微小(xiao)變化(hua)，均有可能引起檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信號幅度的(de)波動(dong)。點(dian)(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)漏磁場(chang)分(fen)布(bu)是尖峰狀(zhuang)的(de)，當點(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭正對(dui)(dui)峰頂(ding)時(shi)(shi)，信號幅度最大(da)，偏離(li)時(shi)(shi)信號幅度將急劇下降。因此，用點(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭去檢(jian)(jian)(jian)測(ce)點(dian)(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)時(shi)(shi)將會產生(sheng)不穩(wen)定(ding)的(de)信號，導致(zhi)誤判或漏判。進行檢(jian)(jian)(jian)測(ce)設備標定(ding)時(shi)(shi)，也難將各通道的(de)靈敏度調(diao)整到(dao)一致(zhi)。
點檢探頭檢測(ce)線狀(zhuang)(zhuang)缺陷時(shi)，很容易掃查(cha)到線狀(zhuang)(zhuang)缺陷產生的(de)“山脈(mo)”狀(zhuang)(zhuang)漏磁(ci)場的(de)某一(yi)個(ge)縱斷面，檢測(ce)信(xin)號(hao)幅度(du)將正(zheng)比于線狀(zhuang)(zhuang)缺陷的(de)深度(du)。當(dang)線狀(zhuang)(zhuang)缺陷長度(du)大于一(yi)定值時(shi)，設備標(biao)定或檢測(ce)信(xin)號(hao)的(de)一(yi)致性和穩定性均(jun)較好。
b. 線檢(jian)探頭(tou)的信號特性
線檢探(tan)(tan)頭測(ce)(ce)量的是(shi)探(tan)(tan)頭長度范圍內的平均磁感應強(qiang)度或磁通量的變化。與(yu)(yu)點(dian)檢探(tan)(tan)頭相(xiang)比，線檢探(tan)(tan)頭的輸出(chu)信號特性(xing)不(bu)但與(yu)(yu)缺陷(xian)的深度有(you)關(guan)，而(er)且與(yu)(yu)缺陷(xian)的長度有(you)關(guan)，最終與(yu)(yu)缺陷(xian)缺失的截面積成比例。這類探(tan)(tan)頭不(bu)能(neng)直(zhi)接獲得與(yu)(yu)缺陷(xian)深度相(xiang)關(guan)的信息，因為(wei)長而(er)淺的缺陷(xian)與(yu)(yu)短而(er)深的缺陷(xian)在檢測(ce)(ce)信號幅度上(shang)有(you)可(ke)能(neng)是(shi)一樣(yang)的。
線檢(jian)探(tan)頭對(dui)點狀缺陷的(de)(de)檢(jian)測(ce)是“滴水(shui)不(bu)漏”。由于線檢(jian)探(tan)頭的(de)(de)長(chang)度(du)遠(yuan)大于點狀缺陷的(de)(de)長(chang)度(du)，在檢(jian)測(ce)路(lu)徑(jing)上(shang)，缺陷相(xiang)對(dui)于探(tan)頭位置變化時，不(bu)會影響檢(jian)測(ce)信號(hao)的(de)(de)幅度(du)，因而一致性較好。
線檢探頭(tou)檢測線狀(zhuang)缺(que)陷時，情況(kuang)較為復(fu)雜，探頭(tou)與(yu)缺(que)陷的長(chang)度(du)比以及位置關系(xi)均(jun)會影響(xiang)信號(hao)幅值。下面舉例分(fen)析。
如圖3-7a所示(shi)，用(yong)有效長度(du)為25mm的(de)(de)線(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)25mm長的(de)(de)刻槽(cao)。當探(tan)(tan)頭(tou)正對(dui)刻槽(cao)時，獲(huo)(huo)得最(zui)大(da)的(de)(de)信(xin)號幅(fu)值(zhi)；當探(tan)(tan)頭(tou)與(yu)刻槽(cao)的(de)(de)位(wei)置錯開時，信(xin)號幅(fu)值(zhi)將隨著探(tan)(tan)頭(tou)與(yu)缺陷(xian)交叉重疊(die)程度(du)的(de)(de)減小而減弱(ruo)，此種(zhong)狀態(tai)對(dui)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)是不利的(de)(de)，不論是設備標定還是檢(jian)(jian)(jian)測(ce)應用(yong)均很難獲(huo)(huo)得一(yi)致的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信(xin)號。圖3-7中左邊的(de)(de)粗線(xian)(xian)段為線(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)，中間(jian)的(de)(de)細線(xian)(xian)段為不同(tong)位(wei)置的(de)(de)線(xian)(xian)狀缺陷(xian)，右邊為不同(tong)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信(xin)號幅(fu)度(du)。為實現線(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)(de)一(yi)致性檢(jian)(jian)(jian)測(ce)，有如下兩種(zhong)做法：
①. 減(jian)小(xiao)線檢(jian)探頭的(de)有效(xiao)長度，讓它小(xiao)于(yu)(yu)或等于(yu)(yu)線狀缺(que)陷長度的(de)一半，同時(shi)將相鄰檢(jian)測(ce)探頭按(an)50％重疊布(bu)置，如圖3-7b所示。可(ke)以看出，不論缺(que)陷從哪個路徑通過探頭陣列(lie)，均可(ke)在(zai)某(mou)一檢(jian)測(ce)單(dan)元(yuan)中(zhong)獲(huo)得一個最大的(de)信號幅值，而在(zai)其他檢(jian)測(ce)單(dan)元(yuan)中(zhong)得到較小(xiao)的(de)信號幅值。
此時，由于線(xian)狀缺陷(xian)長度遠大(da)于探(tan)頭長度，檢測(ce)(ce)探(tan)頭測(ce)(ce)量的是(shi)漏磁場“山脈(mo)”中(zhong)的某一(yi)段，如果線(xian)狀缺陷(xian)深(shen)度一(yi)致，它可以直接反(fan)映(ying)出深(shen)度信息。將線(xian)檢探(tan)頭的長度再不斷縮小，線(xian)檢探(tan)頭則變成(cheng)點檢探(tan)頭。此時，在采(cai)用(yong)標準人工缺陷(xian)進行設備標定時，任何狀態均可得到(dao)一(yi)致的檢測(ce)(ce)信號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此(ci)種檢測(ce)方法測(ce)量的(de)(de)是線狀缺(que)陷的(de)(de)平均磁感(gan)應(ying)強度，因而，它(ta)反映(ying)不了線狀缺(que)陷的(de)(de)深度信(xin)息。當缺(que)陷的(de)(de)長度逐漸減小時(shi)，則(ze)轉(zhuan)變成線檢探頭對點(dian)狀缺(que)陷的(de)(de)檢測(ce)。
3. 面向對象的檢(jian)測探(tan)頭設(she)計和選用
在(zai)漏磁檢測中，應該根據具體的檢測要求來設計和選擇(ze)合適的探頭芯(xin)結構，下面給出幾種探頭設計和選用原則。
a. 缺陷的(de)深(shen)度(du)檢(jian)測應(ying)該選擇點(dian)檢(jian)探頭 點(dian)檢(jian)探頭反映的(de)是局部磁感應(ying)強度(du)或(huo)其(qi)變化(hua)。當(dang)裂(lie)紋較長時，測點(dian)相當(dang)于(yu)對無限長矩形槽的(de)探測，因而，測點(dian)的(de)信號幅度(du)與缺陷深(shen)度(du)密切相關。但是，當(dang)線狀缺陷越來(lai)越短時，測量的(de)誤差也就越來(lai)越大(da)，特(te)別地，對點(dian)狀缺陷的(de)深(shen)度(du)探測幾乎(hu)不可能。
在鋼(gang)管漏(lou)磁檢(jian)測校樣過程(cheng)中，一般均(jun)以通(tong)(tong)孔(kong)作(zuo)為標(biao)定(ding)試(shi)樣上的(de)(de)標(biao)準缺(que)陷，這樣，大、小孔(kong)的(de)(de)深度(du)一致，孔(kong)徑尺寸反(fan)映出(chu)缺(que)失截面(mian)積(ji)的(de)(de)線性變化，因而(er)，漏(lou)磁磁通(tong)(tong)量也(ye)將發生(sheng)線性變化。對于不通(tong)(tong)孔(kong)，當孔(kong)的(de)(de)深度(du)和直徑均(jun)為變量時，僅通(tong)(tong)過尋找孔(kong)深與孔(kong)徑的(de)(de)乘積(ji)與信號幅度(du)關系去反(fan)演或推算深度(du)是不可能的(de)(de)。這也(ye)是僅采用漏(lou)磁方法進行(xing)檢(jian)測的(de)(de)不足。
b. 缺陷的(de)損失截面積檢測(ce)應(ying)該選擇線(xian)檢探(tan)頭 線(xian)檢探(tan)頭的(de)信號幅度與缺陷損失的(de)截面積成(cheng)比例(li)，因而(er)有較好的(de)測(ce)量精度。在(zai)有些檢測(ce)對象中(zhong)應(ying)用(yong)較好。
c. 缺陷的(de)長(chang)(chang)度檢(jian)測應該用(yong)點(dian)檢(jian)探頭陣列(lie)或點(dian)線組合(he)式探頭 點(dian)檢(jian)探頭敏(min)感于缺陷的(de)深度，當采用(yong)點(dian)檢(jian)探頭陣列(lie)時，缺陷長(chang)(chang)度覆蓋的(de)通道(dao)數量(liang)可(ke)以反(fan)映其長(chang)(chang)度信息(xi)；另一(yi)方(fang)面，當線檢(jian)探頭大于缺陷的(de)長(chang)(chang)度時，感應的(de)是深度和長(chang)(chang)度的(de)共同信息(xi)，如在其感應范圍內并列(lie)布(bu)置(zhi)一(yi)個或多個點(dian)檢(jian)探頭感受深度信息(xi)，則裂(lie)紋的(de)長(chang)(chang)度就可(ke)以計算出來。
從信(xin)號處(chu)理(li)角度(du)來看，點線(xian)組合式探頭需要的(de)(de)通(tong)道(dao)數量較(jiao)少，可(ke)以同時獲(huo)得缺(que)陷的(de)(de)深度(du)、長度(du)、缺(que)失截面積(ji)等信(xin)息(xi)，具有較(jiao)強的(de)(de)應用價值。
d. 斜向(xiang)裂紋采(cai)用(yong)點檢(jian)(jian)探頭陣(zhen)列檢(jian)(jian)測 在(zai)漏(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測中，當缺陷走向(xiang)與磁(ci)化場方向(xiang)不垂直時，漏(lou)磁(ci)場的強度將降低，從而獲得(de)較(jiao)小的信號幅值。因(yin)此，斜向(xiang)缺陷的檢(jian)(jian)測與評估，需要首先檢(jian)(jian)測出裂紋的走向(xiang)，并且根據走向(xiang)修(xiu)正(zheng)漏(lou)磁(ci)場信號幅度，再進行深(shen)度判(pan)別。
另一方面，當探(tan)(tan)頭(tou)掃查路徑(jing)垂直于缺(que)陷(xian)走(zou)向時(shi)(shi)，檢(jian)測信(xin)號(hao)(hao)幅值(zhi)最大(da)(da)；隨著兩(liang)者夾(jia)角不斷減小，檢(jian)測信(xin)號(hao)(hao)幅值(zhi)逐漸降低(di)，同(tong)時(shi)(shi)信(xin)號(hao)(hao)特性(xing)也將發(fa)生明(ming)顯變化。此時(shi)(shi)，線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)檢(jian)測信(xin)號(hao)(hao)特性(xing)變化很大(da)(da)，點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)信(xin)號(hao)(hao)幅度波動(dong)卻很小。因此，可利用點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)陣列(lie)中各通道獲得最大(da)(da)幅值(zhi)的(de)時(shi)(shi)間差異來推(tui)算(suan)缺(que)陷(xian)走(zou)向，為后續(xu)的(de)信(xin)號(hao)(hao)補償與缺(que)陷(xian)判(pan)別奠定基礎，如圖3-8所示。
漏(lou)磁設備的(de)(de)檢(jian)(jian)測能(neng)力(li)(li)與探頭(tou)芯結構密切相關，從目前應用(yong)情況(kuang)來(lai)看，漏(lou)磁檢(jian)(jian)測方法對(dui)內(nei)外部腐蝕坑(keng)、內(nei)外部周(zhou)／軸(zhou)向裂紋均有較好的(de)(de)檢(jian)(jian)測精度，同時，對(dui)斜向裂紋具有一定的(de)(de)檢(jian)(jian)測能(neng)力(li)(li)。但(dan)是，漏(lou)磁檢(jian)(jian)測方法對(dui)微裂紋，如(ru)初(chu)期的(de)(de)疲勞裂紋、熱處理的(de)(de)應力(li)(li)裂紋、軋制時的(de)(de)微機械裂紋和折疊不太敏感。究其原因，微裂紋的(de)(de)開(kai)口均小(xiao)于0.05mm，漏(lou)磁場(chang)強度較低，因此，有必要輔以渦流、超聲等其他檢(jian)(jian)測方法。
我國進口漏磁檢(jian)測(ce)設(she)備采用的(de)(de)基(ji)本都是(shi)基(ji)于線圈的(de)(de)線檢(jian)探(tan)頭，這(zhe)種(zhong)配置需(xu)要(yao)的(de)(de)信號通道數(shu)量相對較少、探(tan)靴(xue)的(de)(de)有(you)效覆蓋范圍大。但是(shi)，這(zhe)種(zhong)方式對缺(que)陷的(de)(de)深度(du)評定(ding)需(xu)要(yao)一定(ding)的(de)(de)輔助條(tiao)件，而(er)且對斜向缺(que)陷的(de)(de)檢(jian)測(ce)靈敏(min)度(du)較低。
在(zai)具體應用(yong)過程中，首先應分析檢測要(yao)(yao)求和(he)對象(xiang)特點，其(qi)次要(yao)(yao)認識(shi)探(tan)頭(tou)芯的(de)形式和(he)結構。總的(de)來講，采用(yong)線(xian)檢探(tan)頭(tou)去檢測線(xian)狀缺(que)陷的(de)深度信息和(he)采用(yong)點檢探(tan)頭(tou)去評定點狀缺(que)陷的(de)長(chang)度信息均是不現(xian)實的(de)；高精度的(de)檢測需要(yao)(yao)以大量(liang)的(de)獨立測量(liang)通道和(he)信號處理系統為代價，因(yin)此，應根據檢測目標(biao)綜合(he)權衡。
