什么(me)是無(wu)損(sun)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)？ 無(wu)損(sun)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)是指在不(bu)(bu)(bu)損(sun)害或(huo)不(bu)(bu)(bu)影響(xiang)被檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)對象使用(yong)性(xing)(xing)能、不(bu)(bu)(bu)傷害被檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)對象內(nei)部組織的(de)(de)(de)前提下，利用(yong)材料內(nei)部結(jie)構存在異常或(huo)缺陷(xian)而引起的(de)(de)(de)熱(re)、聲、光、電、磁(ci)等(deng)反應(ying)變化(hua)，以物理或(huo)化(hua)學方(fang)法(fa)為手段，借助現代(dai)化(hua)的(de)(de)(de)技術和設備器(qi)材，對試件內(nei)部及表(biao)面的(de)(de)(de)結(jie)構、性(xing)(xing)質(zhi)、狀(zhuang)態(tai)及缺陷(xian)的(de)(de)(de)類(lei)型(xing)、性(xing)(xing)質(zhi)、數量(liang)、形狀(zhuang)、位置、尺(chi)寸、分(fen)布及其(qi)變化(hua)進行檢(jian)(jian)(jian)查和測(ce)(ce)試的(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。 無(wu)損(sun)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)(de)優點(dian) 無(wu)損(sun)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)具有非破壞性(xing)(xing)、互容性(xing)(xing)、動態(tai)性(xing)(xing)等(deng)優點(dian)而得到公眾的(de)(de)(de)廣泛(fan)認可(ke)，也在一定程度(du)上反映了一個國家的(de)(de)(de)工(gong)業發展水平(ping)，是工(gong)業發展必不(bu)(bu)(bu)可(ke)少(shao)的(de)(de)(de)有效工(gong)具。 非破壞性(xing)(xing) 非破壞性(xing)(xing)是指在獲得檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)結(jie)果的(de)(de)(de)同(tong)時，除了剔除不(bu)(bu)(bu)合格品(pin)外，不(bu)(bu)(bu)損(sun)失(shi)零件。因此，檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)規模不(bu)(bu)(bu)受(shou)零件多少(shao)的(de)(de)(de)限制，既可(ke)抽樣檢(jian)(jian)(jian)驗，又可(ke)在必要時采用(yong)普檢(jian)(jian)(jian)。

  互(hu)容(rong)性(xing)(xing)即指檢驗(yan)方(fang)法(fa)的(de)(de)互(hu)容(rong)性(xing)(xing)，即同(tong)一(yi)零件可同(tong)時(shi)或依次(ci)采用不同(tong)的(de)(de)檢驗(yan)方(fang)法(fa)，而(er)且又可重(zhong)復地進行(xing)同(tong)一(yi)檢驗(yan)。當(dang)然，這也是非破(po)壞性(xing)(xing)帶(dai)來的(de)(de)好處(chu)。 動態(tai)性(xing)(xing) 動態(tai)性(xing)(xing)是指無(wu)(wu)損(sun)探傷方(fang)法(fa)可對使用中的(de)(de)零件進行(xing)檢驗(yan)，而(er)且能夠適時(shi)考察產品運行(xing)期的(de)(de)累(lei)計影響(xiang)，可查明結構的(de)(de)失效機理。 無(wu)(wu)損(sun)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)(de)方(fang)法(fa) 無(wu)(wu)損(sun)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)(de)方(fang)法(fa)很多，據(ju)美國國家宇航局調(diao)研分析可分為(wei)六大類約70余種(zhong)。但在(zai)實(shi)際應(ying)用中，比較常見(jian)的(de)(de)有目視檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(VT)、射線照相法(fa)(RT)、超聲波檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(UT)、磁粉檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(MT)、滲透檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(PT)、渦流檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ECT)、聲發射(AE)、超聲波衍射時(shi)差法(fa)(TOFD)等。