無損檢(jian)測(ce)就是(shi)利用(yong)(yong)(yong)聲、光、磁和電等(deng)特性(xing)，在不損害或不影響被(bei)檢(jian)對象(xiang)(xiang)使用(yong)(yong)(yong)性(xing)能的(de)前提下，檢(jian)測(ce)被(bei)檢(jian)對象(xiang)(xiang)中是(shi)否存(cun)在缺陷或不均勻性(xing)，給出缺陷的(de)大(da)小(xiao)、位(wei)置、性(xing)質和數量等(deng)信息，進(jin)而(er)判定被(bei)檢(jian)對象(xiang)(xiang)所處技(ji)術狀態(如合格與否、剩余壽命(ming)等(deng))的(de)所有技(ji)術手段(duan)的(de)總稱。常用(yong)(yong)(yong)的(de)無損檢(jian)測(ce)方法：超聲檢(jian)測(ce)(UT)、磁粉檢(jian)測(ce)(MT)、液體(ti)滲透(tou)檢(jian)測(ce)(PT)及X射線檢(jian)測(ce)(RT)。       


  超(chao)聲波檢測已(yi)經單獨詳細(xi)的(de)介(jie)紹(shao)過了，下(xia)面(mian)就簡單地對剩下(xia)的(de)三個(ge)進(jin)行介(jie)紹(shao)和對比(bi)。       


 首(shou)先來了解一下(xia)，磁(ci)粉(fen)檢測(ce)的(de)原(yuan)理。鐵磁(ci)性材料和工(gong)件(jian)被磁(ci)化后，由于不連(lian)續(xu)性的(de)存在(zai)，工(gong)件(jian)表(biao)面(mian)和近表(biao)面(mian)的(de)磁(ci)力線發生局部畸變，而(er)產生漏磁(ci)場，吸附(fu)施加在(zai)工(gong)件(jian)表(biao)面(mian)的(de)磁(ci)粉(fen)，形(xing)成(cheng)在(zai)合(he)適(shi)光照下(xia)目視可見(jian)的(de)磁(ci)痕，從而(er)顯示(shi)出不連(lian)續(xu)性的(de)位置、形(xing)狀和大小。       


 磁粉(fen)檢測(ce)的適用性(xing)和(he)局限性(xing)有：


 1. 磁(ci)粉探傷適(shi)用于檢測鐵(tie)磁(ci)性材料(liao)表(biao)面和(he)近表(biao)面尺寸很(hen)小(xiao)、間隙極窄(zhai)目視難以看出的不連續性。       


 2. 磁粉檢測(ce)(ce)可(ke)對多(duo)種情況下的零部件檢測(ce)(ce)，還(huan)可(ke)多(duo)種型件進行檢測(ce)(ce)。       


 3. 可發現裂紋(wen)、夾雜、發紋(wen)、白點、折疊、冷隔和疏松等缺陷。       


 4. 磁粉(fen)檢測(ce)不(bu)(bu)能(neng)檢測(ce)奧(ao)氏體不(bu)(bu)銹鋼材料(liao)和(he)用(yong)奧(ao)氏體不(bu)(bu)銹鋼焊(han)(han)條焊(han)(han)接的焊(han)(han)縫，也不(bu)(bu)能(neng)檢測(ce)銅鋁鎂鈦等非磁性材料(liao)。對于(yu)表(biao)面(mian)淺劃傷、埋藏較深洞和(he)與工(gong)件表(biao)面(mian)夾角(jiao)小(xiao)于(yu)20°的分層和(he)折(zhe)疊很難發現(xian)。


  液(ye)(ye)體滲(shen)透(tou)檢測(ce)(ce)的(de)(de)基本原理，零(ling)件表(biao)面被(bei)施涂含有(you)熒光染料或著色染料后，在(zai)一(yi)段時間的(de)(de)毛細管(guan)作用下(xia)，滲(shen)透(tou)液(ye)(ye)可以滲(shen)透(tou)進(jin)表(biao)面開(kai)口缺(que)陷(xian)中；經去除(chu)零(ling)件表(biao)面多(duo)余(yu)的(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)(ye)后，再在(zai)零(ling)件表(biao)面施涂顯(xian)像(xiang)劑(ji)，同樣，在(zai)毛細管(guan)的(de)(de)作用下(xia)，顯(xian)像(xiang)劑(ji)將吸引缺(que)陷(xian)中保(bao)留的(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)(ye)，滲(shen)透(tou)液(ye)(ye)回滲(shen)到顯(xian)像(xiang)劑(ji)中，在(zai)一(yi)定的(de)(de)光源(yuan)下(xia)(紫外(wai)線光或白(bai)光)，缺(que)陷(xian)處的(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)(ye)痕跡(ji)被(bei)現實(shi)，(黃綠(lv)色熒光或鮮(xian)艷紅色)，從而探(tan)測(ce)(ce)出(chu)缺(que)陷(xian)的(de)(de)形貌及分布狀態(tai)。        


 滲透檢(jian)測的優點：1. 可(ke)檢(jian)測各(ge)種材料； 2. 具有較高的靈(ling)敏度(du)；3. 顯示直觀、操作(zuo)方便、檢(jian)測費用低。       


 滲透檢(jian)測的缺(que)點：1. 不(bu)適于(yu)檢(jian)查(cha)多(duo)孔性(xing)疏(shu)松材料制成(cheng)的(de)工件(jian)(jian)和表面(mian)粗糙的(de)工件(jian)(jian)；2. 滲透檢(jian)測只能(neng)檢(jian)出(chu)缺陷的(de)表面(mian)分布，難(nan)(nan)以確定缺陷的(de)實際深(shen)度，因而(er)很難(nan)(nan)對缺陷做出(chu)定量評價。檢(jian)出(chu)結果受操作者的(de)影響(xiang)也較大。       


 最(zui)后一種，射(she)線檢測，是因(yin)(yin)為(wei) X射(she)線穿(chuan)過被照(zhao)射(she)物體(ti)后會有損耗(hao)，不(bu)同(tong)厚度(du)不(bu)同(tong)物質(zhi)對它(ta)們(men)的(de)吸收率不(bu)同(tong)，而底片放(fang)在被照(zhao)射(she)物體(ti)的(de)另一側，會因(yin)(yin)為(wei)射(she)線強度(du)不(bu)同(tong)而產生相(xiang)應的(de)圖形,評片人員(yuan)就可以根據影像來(lai)判斷物體(ti)內部的(de)是否有缺(que)陷以及缺(que)陷的(de)性質(zhi)。 


 射(she)線檢測的(de)適用性(xing)和局限性(xing)：   1. 對(dui)檢測體(ti)積型的(de)缺(que)(que)陷比較敏感，比較容易對(dui)缺(que)(que)陷進(jin)行定(ding)性(xing)。 2. 射(she)線底(di)片易于(yu)保留，有追溯性(xing)。3. 直觀(guan)顯示缺(que)(que)陷的(de)形(xing)狀(zhuang)和類型。  4. 缺(que)(que)點(dian)不能定(ding)位缺(que)(que)陷的(de)埋(mai)藏深度(du)，同(tong)時檢測厚度(du)有限，底(di)片需專(zhuan)門送洗(xi)，并且對(dui)人身體(ti)有一定(ding)害，成本較高(gao)。     


  總而言之，超聲波(bo)(bo)、X射線探傷(shang)適(shi)用(yong)于(yu)(yu)(yu)探傷(shang)內(nei)部缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)；其中(zhong)超聲波(bo)(bo)適(shi)用(yong)于(yu)(yu)(yu)5mm以上，且形狀規則的部件，X射線不(bu)能定位缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的埋(mai)藏深度，有輻射。 磁粉、滲透(tou)探傷(shang)適(shi)用(yong)于(yu)(yu)(yu)探傷(shang)部件表面缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)；其中(zhong)磁粉探傷(shang)僅(jin)限(xian)于(yu)(yu)(yu)檢測磁性材(cai)料，滲透(tou)探傷(shang)僅(jin)限(xian)于(yu)(yu)(yu)檢測表面開口缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)。