工業無損探(tan)傷的(de)方法(fa)很多，目(mu)前國內外最(zui)常用的(de)探(tan)傷方法(fa)有五(wu)種，即人們常稱的(de)五(wu)大常規(gui)探(tan)傷方法(fa)。本文將首先(xian)介紹(shao)五(wu)大常規(gui)探(tan)傷方法(fa)及其特點(dian)，并結合(he)汽車維(wei)修(xiu)中的(de)特定條(tiao)件和需求，選出更適合(he)于汽車維(wei)修(xiu)的(de)探(tan)傷方法(fa)。
五大常規方法(fa)是指射(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)RT、超(chao)聲(sheng)波探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)UT、磁粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)MT、渦流探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)ET和(he)滲透(tou)探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)PT。
1. 射線探傷(shang)方(fang)法(fa)
射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是(shi)(shi)利(li)用(yong)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)穿透(tou)(tou)性(xing)(xing)和直線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)性(xing)(xing)來(lai)(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。這(zhe)些射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)雖(sui)然不(bu)會(hui)像可(ke)(ke)見(jian)光那(nei)樣(yang)憑肉眼就(jiu)能(neng)直接(jie)察(cha)知(zhi)，但(dan)它可(ke)(ke)使(shi)照相底片(pian)感(gan)光，也(ye)可(ke)(ke)用(yong)特殊(shu)的(de)(de)(de)接(jie)收器(qi)來(lai)(lai)接(jie)收。常用(yong)于探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)x光和同位素發出的(de)(de)(de)γ射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，分別稱為(wei)x光探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)和γ射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)。當這(zhe)些射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿過（照射(she)(she)）物質(zhi)時，該物質(zhi)的(de)(de)(de)密度越大(da)，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)(qiang)(qiang)度減(jian)弱得越多，即射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)能(neng)穿透(tou)(tou)過該物質(zhi)的(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)(qiang)度就(jiu)越小。此(ci)時，若(ruo)用(yong)照相底片(pian)接(jie)收，則底片(pian)的(de)(de)(de)感(gan)光量就(jiu)小；若(ruo)用(yong)儀器(qi)來(lai)(lai)接(jie)收，獲得的(de)(de)(de)信號就(jiu)弱。因此(ci)，用(yong)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)來(lai)(lai)照射(she)(she)待探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)零部件時，若(ruo)其(qi)內部有(you)氣孔、夾渣等(deng)(deng)缺(que)(que)陷(xian)(xian)，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿過有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑比沒有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑所透(tou)(tou)過的(de)(de)(de)物質(zhi)密度要小得多，其(qi)強(qiang)(qiang)(qiang)度就(jiu)減(jian)弱得少(shao)些，即透(tou)(tou)過的(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)(qiang)度就(jiu)大(da)些，若(ruo)用(yong)底片(pian)接(jie)收，則感(gan)光量就(jiu)大(da)些，就(jiu)可(ke)(ke)以從底片(pian)上反映出缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂直于射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向的(de)(de)(de)平面(mian)投(tou)影；若(ruo)用(yong)其(qi)它接(jie)收器(qi)也(ye)同樣(yang)可(ke)(ke)以用(yong)儀表來(lai)(lai)反映缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂直于射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向的(de)(de)(de)平面(mian)投(tou)影和射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)透(tou)(tou)過量。由此(ci)可(ke)(ke)見(jian)，一般情(qing)況(kuang)下，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是(shi)(shi)不(bu)易發現裂(lie)紋(wen)的(de)(de)(de)，或者說(shuo)，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)對(dui)裂(lie)紋(wen)是(shi)(shi)不(bu)敏感(gan)的(de)(de)(de)。因此(ci)，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)對(dui)氣孔、夾渣、未焊(han)透(tou)(tou)等(deng)(deng)體積(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)最敏感(gan)。即射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)適(shi)宜(yi)用(yong)于體積(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)，而不(bu)適(shi)宜(yi)面(mian)積(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)。
2. 超(chao)聲波(bo)探傷方法
人(ren)們的(de)(de)(de)(de)耳朵能(neng)(neng)直(zhi)接(jie)(jie)接(jie)(jie)收(shou)到(dao)(dao)的(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)頻率(lv)范圍通常(chang)是(shi)20Hz到(dao)(dao)20kHz，即音(yin)（聲(sheng)(sheng)）頻。頻率(lv)低(di)于(yu)(yu)20 Hz的(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為(wei)次聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，高(gao)于(yu)(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為(wei)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)。工(gong)業上常(chang)用數兆赫茲(zi)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)來探(tan)傷。超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)頻率(lv)高(gao)，則傳(chuan)(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)直(zhi)線(xian)性強(qiang)，又易于(yu)(yu)在(zai)固體中傳(chuan)(chuan)播(bo)，并且(qie)遇到(dao)(dao)兩種不同(tong)介(jie)質形成的(de)(de)(de)(de)界面(mian)(mian)時(shi)易于(yu)(yu)反射，這樣就可以用它來探(tan)傷。通常(chang)用超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)探(tan)頭(tou)與待探(tan)工(gong)件表面(mian)(mian)良好的(de)(de)(de)(de)接(jie)(jie)觸(chu)，探(tan)頭(tou)則可有(you)效地(di)向工(gong)件發射超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，并能(neng)(neng)接(jie)(jie)收(shou)（缺(que)(que)陷(xian)）界面(mian)(mian)反射來的(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，同(tong)時(shi)轉換成電信號，再傳(chuan)(chuan)輸給(gei)儀器進行處理。根(gen)據(ju)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)在(zai)介(jie)質中傳(chuan)(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)速(su)度（常(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)速(su)）和(he)傳(chuan)(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)時(shi)間，就可知(zhi)道缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)位置。當(dang)(dang)缺(que)(que)陷(xian)越大(da)，反射面(mian)(mian)則越大(da)，其(qi)反射的(de)(de)(de)(de)能(neng)(neng)量也就越大(da)，故可根(gen)據(ju)反射能(neng)(neng)量的(de)(de)(de)(de)大(da)小來查知(zhi)各缺(que)(que)陷(xian)（當(dang)(dang)量）的(de)(de)(de)(de)大(da)小。常(chang)用的(de)(de)(de)(de)探(tan)傷波(bo)(bo)形有(you)縱波(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)、表面(mian)(mian)波(bo)(bo)等(deng)，前二(er)者適(shi)用于(yu)(yu)探(tan)測(ce)(ce)內(nei)部缺(que)(que)陷(xian)，后者適(shi)宜于(yu)(yu)探(tan)測(ce)(ce)表面(mian)(mian)缺(que)(que)陷(xian)，但對(dui)表面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)條(tiao)件要求高(gao)。
3. 磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是建立在(zai)漏磁(ci)(ci)(ci)原理基(ji)礎上的(de)(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)方(fang)法(fa)。當(dang)磁(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)線穿過(guo)鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料及(ji)其(qi)制品時(shi)，在(zai)其(qi)（磁(ci)(ci)(ci)性）不(bu)連續處將產生漏磁(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)極。此(ci)時(shi)撒上干磁(ci)(ci)(ci)粉或澆(jiao)上磁(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)極就(jiu)會吸附磁(ci)(ci)(ci)粉，產生用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)肉眼能直(zhi)接觀察的(de)(de)(de)(de)(de)(de)明顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)痕。因此(ci)，可借助(zhu)于(yu)該磁(ci)(ci)(ci)痕來顯(xian)示(shi)(shi)鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料及(ji)其(qi)制品的(de)(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)陷情況。磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)可探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)露(lu)出表面，用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)肉眼或借助(zhu)于(yu)放大鏡也不(bu)能直(zhi)接觀察到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)微(wei)小缺(que)陷，也可探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)未(wei)(wei)露(lu)出表面，而(er)是埋藏在(zai)表面下(xia)幾毫米(mi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)近表面缺(que)陷。用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)這種(zhong)方(fang)法(fa)雖然也能探(tan)(tan)(tan)(tan)查氣孔、夾雜(za)、未(wei)(wei)焊(han)透等(deng)體積型缺(que)陷，但對面積型缺(que)陷更靈敏(min)，更適于(yu)檢查因淬火、軋(ya)制、鍛造、鑄造、焊(han)接、電鍍、磨削、疲勞等(deng)引起的(de)(de)(de)(de)(de)(de)裂紋。 磁(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)中對缺(que)陷的(de)(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)(shi)方(fang)法(fa)有(you)多種(zhong)，有(you)用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉顯(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，也有(you)不(bu)用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉顯(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)。用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉顯(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，因它(ta)顯(xian)示(shi)(shi)直(zhi)觀、操(cao)作簡(jian)單、人(ren)們(men)樂于(yu)使用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)，故它(ta)是最(zui)常用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)之一(yi)。不(bu)用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉顯(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，習慣上稱(cheng)為漏磁(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，它(ta)常借助(zhu)于(yu)感應線圈(quan)、磁(ci)(ci)(ci)敏(min)管、霍爾元件等(deng)來反映缺(que)陷，它(ta)比(bi)磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)更衛生，但不(bu)如前者直(zhi)觀。由于(yu)目前磁(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)主要用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉來顯(xian)示(shi)(shi)缺(que)陷，因此(ci)，人(ren)們(men)有(you)時(shi)把磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)直(zhi)接稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，其(qi)設備稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)設備。
4. 渦流探傷方法
渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)探傷是(shi)由交(jiao)流(liu)(liu)(liu)(liu)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)產生的(de)(de)(de)交(jiao)變磁場作(zuo)用(yong)(yong)于(yu)待(dai)探傷的(de)(de)(de)導(dao)電(dian)(dian)材料，感(gan)應出電(dian)(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)。如果材料中(zhong)有缺陷，它將(jiang)(jiang)干擾所產生的(de)(de)(de)電(dian)(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)，即形成干擾信號(hao)。用(yong)(yong)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)探傷儀檢測(ce)出其干擾信號(hao)，就可知道缺陷的(de)(de)(de)狀(zhuang)況(kuang)。影響(xiang)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)的(de)(de)(de)因素很多，即是(shi)說渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)中(zhong)載有豐富的(de)(de)(de)信號(hao)，這些(xie)信號(hao)與(yu)材料的(de)(de)(de)很多因素有關，如何將(jiang)(jiang)其中(zhong)有用(yong)(yong)的(de)(de)(de)信號(hao)從諸多的(de)(de)(de)信號(hao)中(zhong)一(yi)(yi)(yi)一(yi)(yi)(yi)分(fen)離出來，是(shi)目(mu)前渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)研(yan)究工作(zuo)者(zhe)的(de)(de)(de)難題(ti)，多年來已經(jing)取(qu)得了一(yi)(yi)(yi)些(xie)進展(zhan)，在一(yi)(yi)(yi)定條件(jian)下可解決一(yi)(yi)(yi)些(xie)問(wen)題(ti)，但還遠不能滿足(zu)現場的(de)(de)(de)要求，有待(dai)于(yu)大力(li)發(fa)展(zhan)。
渦(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)的(de)顯(xian)著特點是對導(dao)電材料就能起作(zuo)用，而不(bu)一定是鐵(tie)磁(ci)(ci)材料，但對鐵(tie)磁(ci)(ci)材料的(de)效果較差。其次，待探(tan)工件表面(mian)的(de)光(guang)潔度、平(ping)整度、邊(bian)介等對渦(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)都有較大影響，因此常將渦(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)用于形狀(zhuang)較規(gui)則(ze)、表面(mian)較光(guang)潔的(de)銅管等非(fei)鐵(tie)磁(ci)(ci)性工件探(tan)傷(shang)。
5. 滲透探傷(shang)方法
滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)是(shi)利(li)用(yong)毛(mao)細現象(xiang)來進行探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)方法。對(dui)于(yu)(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)光(guang)(guang)滑而(er)清潔的(de)(de)零(ling)(ling)部件，用(yong)一種帶(dai)(dai)色(se)(se)（常(chang)為紅色(se)(se)）或(huo)帶(dai)(dai)有(you)(you)熒(ying)(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)、滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)性很(hen)強的(de)(de)液(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)體(ti)，涂覆于(yu)(yu)待探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)零(ling)(ling)部件的(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)。若表(biao)(biao)面(mian)(mian)有(you)(you)肉眼不能直接(jie)察知的(de)(de)微裂紋(wen)，由(you)于(yu)(yu)該(gai)液(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)體(ti)的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)性很(hen)強，它將(jiang)沿著裂紋(wen)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)(dao)其根部。然(ran)后(hou)將(jiang)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)洗去，再涂上(shang)對(dui)比度(du)較(jiao)大的(de)(de)顯(xian)示液(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)（常(chang)為白(bai)(bai)色(se)(se)）。放置片刻(ke)后(hou)，由(you)于(yu)(yu)裂紋(wen)很(hen)窄(zhai)，毛(mao)細現象(xiang)作用(yong)顯(xian)著，原滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)(dao)裂紋(wen)內的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)將(jiang)上(shang)升(sheng)到(dao)(dao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)并擴散，在白(bai)(bai)色(se)(se)的(de)(de)襯底(di)上(shang)顯(xian)出(chu)較(jiao)粗的(de)(de)紅線，從而(er)顯(xian)示出(chu)裂紋(wen)露(lu)于(yu)(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)形(xing)(xing)狀，因此(ci)，常(chang)稱為著色(se)(se)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)。若滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)采用(yong)的(de)(de)是(shi)帶(dai)(dai)熒(ying)(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)液(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)體(ti)，由(you)毛(mao)細現象(xiang)上(shang)升(sheng)到(dao)(dao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)液(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)體(ti)，則(ze)會在紫(zi)外燈照(zhao)射下發出(chu)熒(ying)(ying)光(guang)(guang)，從而(er)更能顯(xian)示出(chu)裂紋(wen)露(lu)于(yu)(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)形(xing)(xing)狀，故常(chang)常(chang)又將(jiang)此(ci)時的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)直接(jie)稱為熒(ying)(ying)光(guang)(guang)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)。此(ci)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)方法也(ye)可用(yong)于(yu)(yu)金屬和非金屬表(biao)(biao)面(mian)(mian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)。其使用(yong)的(de)(de)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)液(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)(ye)劑有(you)(you)較(jiao)大氣味，常(chang)有(you)(you)一定毒性。
除(chu)以上五大常規(gui)方(fang)法外，近年來又有了紅外、聲發射等(deng)一些(xie)新的探傷方(fang)法。
浙江至德鋼業有限公司專業生產不銹鋼管及管道連接配件廠家，倉庫常備不銹鋼管庫存1000余噸及部分不銹鋼法蘭管件（彎頭|三通|大小頭）現貨，常用規格可當天發貨。另可提供各種不銹鋼管切割、拋光、折彎、鉆孔、焊接、車床加工及管道預制件加工等配套服務。
